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走査プローブ顕微鏡ＩＶ：産業面への応用<br>Applied Scanning Probe Methods IV Vol.4 : Industrial Application (Nanoscience and Technology) （2006. 200 S. 23,5 cm）
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走査プローブ顕微鏡ＩＶ：産業面への応用
Applied Scanning Probe Methods IV Vol.4 : Industrial Application (Nanoscience and Technology) （2006. 200 S. 23,5 cm）  Hardcover,  言語：ENG

Ed. by Bharat Bhushan and Harald Fuchs

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩ：走査プローブ顕微鏡テクニック<br>Applied Scanning Probe Methods II Vol.2 : Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology) （2006. 390 p. 23,5 cm）
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩ：走査プローブ顕微鏡テクニック
Applied Scanning Probe Methods II Vol.2 : Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology) （2006. 390 p. 23,5 cm）  Hardcover

Ed. by Bharat Bhushan and Harald Fuchs

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩＩ：キャラクタリゼーション<br>Applied Scanning Probe Methods III Vol.3 : Characterization (Nanoscience and Technology) （2006. 350 p. 23,5 cm）
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用ＩＩＩ：キャラクタリゼーション
Applied Scanning Probe Methods III Vol.3 : Characterization (Nanoscience and Technology) （2006. 350 p. 23,5 cm）  Hardcover,  言語：ENG

Ed. by Bharat Bhushan and Harald Fuchs

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用<br>Applied Scanning Probe Methods (Nanoscience and Technology) （2004. XX, 476 p. w. 338 figs. (6 col.) 24 cm）
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用
Applied Scanning Probe Methods (Nanoscience and Technology) （2004. XX, 476 p. w. 338 figs. (6 col.) 24 cm）  Hardcover

Ed. by Bharat Bhushan, Harald Fuchs and Sumio Hosaka

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